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梅特勒-托利多 XPR205DU/A 分析天平技術解析
更新時間:2026-03-24
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梅特勒-托利多(METTLER TOLEDO)XPR205DU/A 是一款分析天平,屬于超越系列(Excellence Series)產品線。該型號以其的稱量性能、智能化的質量保障功能以及全面的數據完整性支持,成為制藥、化工和科研領域微量樣品稱量的理想選擇。
XPR205DU/A 采用雙量程設計,大稱量值為220 g,在精細量程內可讀性高達0.01 mg(十萬分之一),同時提供0.1 mg的標準可讀性,兼顧了高精度與寬量程的應用需求。
| 參數項目 | 規格指標 |
|---|---|
| 大秤量 | 220 g / 81 g(精細量程) |
| 可讀性 | 0.1 mg / 0.01 mg(雙量程) |
| 重復性(典型值) | 0.01 mg(5%負載) |
| 重復性(標稱負載) | 0.07 mg |
| 線性誤差(典型值) | 0.06 mg |
| 穩定時間 | 1.5 s(標準量程)/ 2.5 s(精細量程) |
| 最小稱量值(USP,0.1%,典型) | 20 mg |
| 秤盤尺寸 | 78 mm × 73 mm |
| 防風罩有效高度 | 235 mm |
| 天平外形尺寸(W×D×H) | 195 mm × 485 mm × 292 mm |
| 天平凈重 | 9.4 kg |
數據來源:
XPR205DU/A 搭載了梅特勒-托利多的 MonoBloc 單模塊稱重傳感器。該技術將稱重單元的核心部件集成于單個鋁制模塊中,具有優異的溫度穩定性和抗沖擊性能。這使得天平能夠實現高達 0.01 mg 的可讀性,同時保證長期使用的可靠性。
內置的 FACT(Fully Automatic Calibration Technology)全自動校準技術采用兩個內置砝碼,在天平檢測到溫度變化時自動執行校準,確保稱量結果的持續準確性。這一功能消除了手動校準的偏差,保證了每次稱量的可追溯性。
靜電是微量稱量中常見的誤差來源之一。XPR205DU/A 配備了有的 StaticDetect 靜電檢測功能,能夠實時監測樣品和容器上的靜電電荷。當靜電水平超過預設閾值時,天平會發出警告,用戶可選配內置電離模塊自動消除靜電,確保稱量結果的可靠性。
與傳統秤盤不同,XPR系列采用創新的 SmartGrid 懸掛式網格秤盤。這種設計大程度減少了氣流干擾和溫度傳遞,顯著提升了微量樣品稱量的穩定性。網格結構允許樣品容器直接放置,同時便于清潔和交叉污染控制。
XPR205DU/A 兼容 LabX 實驗室軟件,為合規性管理提供全面支持。通過 LabX,用戶可以:
在天平顯示屏上獲取 SOP 操作指引
自動記錄稱量結果及相關元數據
實現用戶權限的分級管理
滿足 FDA 21 CFR Part 11 關于數據完整性的要求
將天平與滴定儀、pH計等其他實驗室儀器連接至統一平臺
天平前部配備 StatusLight 狀態指示燈,通過顏色變化直觀顯示天平狀態:
綠色:天平已校準,處于正常工作狀態
黃色:天平需要校準或處于待機狀態
紅色:超出允差范圍,稱量結果無效
XPR205DU/A 內置 LevelControl 水平控制系統,在檢測到天平未處于水平狀態時發出警告,并可在屏幕上顯示實時水平調節指導,確保稱量結果的準確性和可重復性。
可選配的 SmartSens 紅外傳感器支持非接觸式操作,用戶僅需揮手即可自動開啟防風罩門,減少手動操作對天平穩定性的干擾,提高操作效率。
天平內置方法管理功能,可將不同稱量任務的過程設置和允差范圍保存為獨立方法,用戶可快速調用,確保每個操作人員都遵循相同的標準流程。用戶權限管理支持密碼保護和多級權限設置,滿足合規性要求。
XPR205DU/A 的防風罩采用 ErgoDoors 設計,門體不突出天平輪廓之外,且支持交叉操作——可用左手輕松打開右側門,便于在狹小空間內操作。
防風罩玻璃面板采用 QuickLock 設計,無需工具即可在數秒內完成拆卸和安裝,便于清潔。所有玻璃面板均可放入洗碗機清洗,有效防止交叉污染。
天平外殼采用壓鑄鋁和堅固塑料制造,高強度金屬結構能夠保護稱重傳感器,即使在頻繁使用的實驗室環境中也能保持長期穩定的性能。
XPR205DU/A 支持多種自動化升級選項:
自動粉末分配模塊:實現粉末樣品的自動化加樣,精度遠超人工操作
自動液體加樣系統:適用于溶液配制等液體處理任務
ErgoClip 一步加樣:專用樣品容器支架,實現容器直接放置在秤盤上的一步式加樣
XPR205DU/A 分析天平適用于以下應用場景:
| 行業 | 典型應用 |
|---|---|
| 制藥行業 | 原料藥稱量、配方開發、質量控制、穩定性研究 |
| 化學工業 | 催化劑稱量、精細化工品分析、研發實驗室 |
| 食品與飲料 | 營養成分分析、添加劑稱量、研發測試 |
| 科研機構 | 學術研究、材料科學、環境分析 |
梅特勒-托利多 XPR205DU/A 分析天平代表了分析稱量技術的水平。其 0.01 mg 的高可讀性、雙量程設計、StaticDetect 靜電檢測、FACT 自動校準以及 LabX 軟件兼容性,共同構建了一套完整的微量稱量解決方案。
對于制藥、化工和科研領域追求高精度稱量、嚴格合規性要求以及數據完整性的實驗室而言,XPR205DU/A 提供了值得考慮的技術選擇。其在確保稱量準確性的同時,通過智能化的質量保障功能和符合人體工學的設計,有效提升了實驗室工作效率和結果可靠性。